मापन प्रणाली विश्लेषण l एक प्रक्रिया के रूप में माप l मापन डेटा की गुणवत्ता l मापन प्रणाली फ़ीचर l मानक और पता लगाने योग्यता l मापन प्रणाली मूल्यांकन उपकरण l

पर Rathod Sunil द्वारा प्रकाशित

परिचय

मापन डेटा पहले से कहीं अधिक बार और अधिक तरीकों से उपयोग किया जाता है। उदाहरण के लिए, एक निर्माण प्रक्रिया को समायोजित करने का निर्णय अब आमतौर पर माप डेटा पर आधारित होता है। डेटा, या उनसे गणना किए गए कुछ आंकड़े, प्रक्रिया के लिए सांख्यिकीय नियंत्रण सीमाओं के साथ तुलना की जाती है, और यदि तुलना इंगित करती है कि प्रक्रिया सांख्यिकीय नियंत्रण से बाहर है, तो किसी प्रकार का समायोजन किया जाता है। अन्यथा, प्रक्रिया को समायोजन के बिना चलाने की अनुमति है। मापन डेटा का एक अन्य उपयोग यह निर्धारित करना है कि क्या आप दो या अधिक चर के बीच महत्वपूर्ण संबंध मौजूद हैं। उदाहरण के लिए, यह संदेह किया जा सकता है कि मोल्ड किए गए प्लास्टिक के हिस्से पर एक महत्वपूर्ण आयाम फ़ीड सामग्री के तापमान से संबंधित है। फ़ीड सामग्री के तापमान के माप के साथ महत्वपूर्ण आयाम के माप की तुलना करने के लिए प्रतिगमन विश्लेषण नामक एक सांख्यिकीय प्रक्रिया का उपयोग करके संभावित संबंध का अध्ययन किया जा सकता है।

एक प्रक्रिया के रूप में मापन

एक प्रक्रिया के रूप में मापन

मापन डेटा की गुणवत्ता

स्थिर स्थितियों के तहत संचालित माप प्रणाली के लिए प्राप्त कई मापों के सांख्यिकीय गुणों द्वारा परिभाषित माप डेटा की (क्यूएमडी) गुणवत्ता। उदाहरण के लिए मान लीजिए कि स्थिर परिस्थितियों में काम कर रहे सिस्टम का माप है, जिसका उपयोग निश्चित विशेषता के कई माप प्राप्त करने के लिए किया जाता है। यदि माप विशेषता के लिए मास्टर मूल्य के सभी करीब है, तो डेटा की गुणवत्ता को उच्च कहा जाता है इसी प्रकार यदि कुछ या सभी माप मास्टर मूल्य से “दूर” हैं, तो डेटा की गुणवत्ता “कम” कहा जाता है। सांख्यिकीय प्रणाली गुण जो आमतौर पर डेटा की विशेषता गुणवत्ता के लिए उपयोग किए जाते हैं वे माप प्रणाली के पूर्वाग्रह और भिन्नता हैं। पूर्वाग्रह नामक संपत्ति एक संदर्भ मास्टर मूल्य के सापेक्ष डेटा के स्थान को संदर्भित करती है और विचरण नामक संपत्ति डेटा के प्रसार को संदर्भित करती है।

मापन प्रणाली की विशेषताएं:-

पूर्वाग्रह(Bias)-पूर्वाग्रह वास्तविक मूल्य (संदर्भ मूल्य) और एक ही भाग पर एक ही विशेषता पर माप के देखे गए औसत के बीच का अंतर है। पूर्वाग्रह माप प्रणाली की व्यवस्थित त्रुटि का माप है l

Bias

रैखिकता (Linearity)-रैखिकता माप गेज की अपेक्षित परिचालन सीमा पर विभिन्न बिंदुओं पर पूर्वाग्रह मूल्यों में अंतर है। यह आपको बताता है कि माप की अपेक्षित सीमा के माध्यम से दौरे के माप कितने सटीक हैं।

Linearity

स्थिरता(Stability)-स्थिरता (या बहाव) एक विस्तारित समय अवधि में एक ही विशेषता को मापते समय एक ही मास्टर या भागों पर माप प्रणाली के साथ प्राप्त माप में कुल भिन्नता है। यानी स्थिरता समय के साथ पूर्वाग्रह में बदलाव हैl

Stability

दोहराव (Repeatability) -दोहराव एक माप उपकरण के साथ प्राप्त माप में भिन्नता है जब एक ही हिस्से पर समान विशेषता को मापते समय एक मूल्यांकक द्वारा कई बार उपयोग किया जाता है। यह उपकरण की अंतर्निहित भिन्नता या क्षमता ही है। दोहराव को आमतौर पर उपकरण भिन्नता (EV) के रूप में जाना जाता है।

Repeatability

Reproducibility-Reproducibility -को आम तौर पर एक ही हिस्से पर समान विशेषता को मापते समय एक ही माप उपकरण का उपयोग करके विभिन्न मूल्यांककों द्वारा किए गए मापों के औसत में भिन्नता के रूप में परिभाषित किया जाता है। यह अक्सर ऑपरेटर के कौशल से प्रभावित मैनुअल उपकरणों के लिए सही होता है।

Reproducibility

मानक और पता लगाने योग्यता

राष्ट्रीय मानक और प्रौद्योगिकी संस्थान (एनआईएसटी) संयुक्त राज्य अमेरिका में प्रमुख राष्ट्रीय माप संस्थान (एनएमआई) है जो यू.एस. वाणिज्य विभाग के अधीन कार्यरत है। राष्ट्रीय मानक और प्रौद्योगिकी संस्थान (एनआईएसटी), पूर्व में राष्ट्रीय मानक ब्यूरो (एनबीएस), यू.एस. (एनआईएसटी) में मेट्रोलॉजी के लिए उच्चतम स्तर के प्राधिकरण के रूप में कार्य करता है प्राथमिक जिम्मेदारी माप सेवाएं प्रदान करना और माप बनाए रखना है मानक जो अमेरिकी उद्योग को ट्रेस करने योग्य माप बनाने में सहायता करते हैं जो अंततः उत्पादों और सेवाओं के व्यापार में सहायता करते हैं। एनआईएसटी इन सेवाओं को सीधे कई प्रकार के उद्योगों को प्रदान करता है, लेकिन मुख्य रूप से उन उद्योगों को जिन्हें अपने उत्पादों के लिए उच्चतम स्तर की सटीकता की आवश्यकता होती है और जो अपनी प्रक्रियाओं में अत्याधुनिक माप शामिल करते हैं।

राष्ट्रीय मापन संस्थान

दुनिया भर में अधिकांश औद्योगिक देश अपने स्वयं के राष्ट्रीय मापन संस्थान (एनएमआई) बनाए रखते हैं और एनआईएसटी के समान, वे अपने संबंधित देशों के लिए उच्च स्तर के मेट्रोलॉजी मानकों या माप सेवाओं को भी प्रदान करते हैं। एनआईएसटी इन अन्य एनएमआई के साथ मिलकर काम करता है ताकि यह सुनिश्चित किया जा सके कि एक देश में किए गए माप उस देश में किए गए मापों से भिन्न न हों। यह पारस्परिक पहचान व्यवस्था (एमआरए) के माध्यम से और एनएमआई के बीच प्रदर्शन करने वाली अंतर-प्रयोगशाला तुलनाओं के माध्यम से पूरा किया जाता है। एक बात ध्यान देने योग्य है कि इन एनएमआई की क्षमताएं अलग-अलग देशों में अलग-अलग होंगी और सभी प्रकार के मापों की नियमित आधार पर तुलना नहीं की जाती है, इसलिए अंतर मौजूद हो सकता है। यही कारण है कि यह समझना महत्वपूर्ण है कि किसके माप का पता लगाया जा सकता है और वे कितने ट्रेस करने योग्य हैं।

पता लगाने की क्षमता

माल और सेवाओं के व्यापार में ट्रेसबिलिटी महत्वपूर्ण अवधारणा है। माप जो समान या समान मानकों के लिए ट्रेस करने योग्य हैं, उन लोगों की तुलना में अधिक निकटता से सहमत होंगे जो ट्रेस करने योग्य नहीं हैं। यह पुन: परीक्षण, अच्छे उत्पाद की अस्वीकृति और खराब उत्पाद की स्वीकृति की आवश्यकता को कम करने में मदद करता है।

अंशांकन प्रणाली

एक अंशांकन प्रणाली (सीएस) संचालन का एक सेट है जो निर्दिष्ट शर्तों के तहत, एक मापने वाले उपकरण और ज्ञात संदर्भ मूल्य के पता लगाने योग्य मानक और अनिश्चितता के बीच संबंध स्थापित करता है। अंशांकन में मापन उपकरण की तुलना की जा रही सटीकता में किसी भी विसंगति का पता लगाने, सहसंबंधित करने, रिपोर्ट करने या समायोजन द्वारा समाप्त करने के चरण भी शामिल हो सकते हैं।

अंशांकन प्रणाली (एससी) अंशांकन विधियों और मानकों के उपयोग के माध्यम से माप प्रणालियों के लिए माप ट्रेसबिलिटी निर्धारित करती है। ट्रेसबिलिटी उपयुक्त मेट्रोलॉजिकल क्षमता या माप अनिश्चितता के अंशांकन मानकों के साथ उत्पन्न होने वाली अंशांकन घटनाओं की श्रृंखला है। प्रत्येक अंशांकन घटना में मानकों, माप और सत्यापित किए जा रहे परीक्षण उपकरण, अंशांकन विधियों और प्रक्रियाओं, अभिलेखों और योग्य कर्मियों सहित सभी आवश्यक तत्व शामिल हैं।

मापन प्रणाली मूल्यांकन उपकरण-

  • हिस्टोग्राम
  • प्रायिकता कागज
  • चार्ट चलाएं
  • तितर बितर आरेख
  • मल्टी-वारी चार्ट
  • गैंट “आर एंड आर” विश्लेषण
  • प्रसरण का विश्लेषण (ANOVA)
  • शेवार्ट “नियंत्रण” चार्ट

वास्तविक मूल्य

The measurement process TARGET is the True Value (TV) of the part. It is T the desired that any other individual reading to be as close to this value as economically possible. Unfortunately, the true value can be the never known with the certainty. However, uncertainty can the minimized by the using a reference value the based on a well-defined operational definition of a characteristic, and the using results of the measurement system that has higher order discrimination and the traceable to National Institute of Standards and the Technology (NIST). Because the reference value is the used as a surrogate for the true value, these terms are commonly used interchangeably. This usage is not the recommended.

मापन प्रणाली के सांख्यिकीय गुण

आदर्श माप प्रणाली हर बार उपयोग किए जाने पर केवल सही माप उत्पन्न करेगी। प्रत्येक माप हमेशा मानक से सहमत होगा। मापन प्रणाली जो उस तरह से माप उत्पन्न कर सकती है, कहा जाएगा कि शून्य विचरण शून्य पूर्वाग्रह के सांख्यिकीय गुण हैं और किसी भी उत्पाद के गलत वर्गीकरण की शून्य संभावना को मापा जाता है। दुर्भाग्य से ऐसे वांछनीय सांख्यिकीय गुणों के साथ सिस्टम को मापना शायद ही कभी मौजूद होता है और इसलिए प्रक्रिया प्रबंधकों को आमतौर पर उन माप प्रणालियों का उपयोग करने के लिए मजबूर किया जाता है जिनमें वांछनीय सांख्यिकीय गुण (एसपीएमएस) कम होते हैं। सिस्टम की माप की गुणवत्ता आमतौर पर केवल समय के साथ उत्पन्न होने वाले डेटा के सांख्यिकीय गुणों द्वारा निर्धारित की जाती है। अन्य गुण जैसे कि उपयोग की लागत में आसानी आदि। इस मायने में भी महत्वपूर्ण हैं कि वे माप प्रणाली की समग्र वांछनीयता में योगदान करते हैं। लेकिन यह उत्पादित डेटा के सांख्यिकीय गुण हैं जो माप प्रणाली की गुणवत्ता निर्धारित करते हैं। लेकिन यह उत्पादित डेटा के सांख्यिकीय गुण हैं जो माप प्रणाली की गुणवत्ता निर्धारित करते हैं।

विविधता के स्रोत

सभी प्रक्रियाओं के समान, माप प्रणाली भिन्नता के यादृच्छिक और व्यवस्थित दोनों स्रोतों से प्रभावित होती है। भिन्नता के ये स्रोत सामान्य और विशेष कारणों से हैं। माप प्रणाली को नियंत्रित करने के लिए भिन्नता:
1) भिन्नता के संभावित स्रोतों की पहचान करें।
2) जब भी संभव हो हटा दें या भिन्नता के इन स्रोतों की निगरानी करें।
यद्यपि विशिष्ट कारण स्थिति पर निर्भर होंगे, भिन्नता के कुछ विशिष्ट स्रोतों की पहचान की जा सकती है। भिन्नता के इन स्रोतों को प्रस्तुत करने और वर्गीकृत करने के विभिन्न तरीके हैं जैसे कि कारण-प्रभाव आरेख, दोष वृक्ष आरेख, आदि, लेकिन यहां प्रस्तुत दिशानिर्देश प्रणाली को मापने के प्रमुख तत्वों पर ध्यान केंद्रित करेंगे।

मापन प्रणाली परिवर्तनशीलता के प्रभाव

माप प्रणाली भिन्नता के विभिन्न स्रोतों से प्रभावित हो सकती है एक ही हिस्से पर बार-बार रीडिंग एक ही समान परिणाम नहीं देते हैं। रीडिंग सामान्य और विशेष कारणों से एक दूसरे से भिन्न होती है।
माप प्रणाली पर भिन्नता के विभिन्न स्रोतों के प्रभावों का मूल्यांकन छोटी और लंबी अवधि में किया जाना चाहिए। माप प्रणाली क्षमता कम समय में माप प्रणाली यादृच्छिक त्रुटि है। यह रैखिकता एकरूपता दोहराव और प्रतिलिपि प्रस्तुत करने योग्यता द्वारा निर्धारित त्रुटियों का संयोजन है। प्रक्रिया प्रदर्शन के साथ माप प्रणाली का प्रदर्शन समय के साथ भिन्नता के सभी स्रोतों का प्रभाव है। यह निर्धारित करके पूरा किया जाता है कि क्या हमारी प्रक्रिया सांख्यिकीय नियंत्रण में है (यानी, स्थिर और सुसंगत; भिन्नता केवल सामान्य कारणों के कारण है) लक्ष्य पर कोई पूर्वाग्रह नहीं है और अपेक्षित सीमा से अधिक भिन्नता गेज दोहराव और प्रतिलिपि प्रस्तुत करने योग्यता (जीआरआर) स्वीकार्य है। परिणाम। यह विज्ञापन स्थिरता और माप प्रणाली क्षमता की स्थिरता है।

निर्णयों पर प्रभाव

एक भाग को मापने के बाद जो कार्रवाई की जा सकती है, वह उस हिस्से की स्थिति का निर्धारण करना है। ऐतिहासिक रूप से यह निर्धारित किया जाएगा कि क्या भाग विनिर्देश के भीतर स्वीकार्य था या अस्वीकार्य बाहरी विनिर्देश। एक अन्य सामान्य परिदृश्य विशिष्ट श्रेणियों में भागों का वर्गीकरण है।

उत्पाद निर्णयों पर प्रभाव

माप के प्रभाव को बेहतर ढंग से समझने के लिए उत्पाद निर्णयों पर सिस्टम त्रुटि उस मामले पर विचार करती है जहां एक ही भाग के एकाधिक रीडिंग में सभी परिवर्तनशीलता गेज दोहराव और पुनरुत्पादन के कारण होती है। यानी माप प्रक्रिया सांख्यिकीय नियंत्रण में है और इसमें शून्य पूर्वाग्रह है।

नई प्रक्रिया स्वीकृति

नई प्रक्रिया जैसे मशीनिंग निर्माण स्टैम्पिंग सामग्री से निपटने वाली गर्मी उपचार या असेंबली खरीदी जाती है, अक्सर कई चरणों की एक श्रृंखला होती है जो खरीद-बंद गतिविधि के हिस्से के रूप में पूरी होती हैं। अक्सर इसमें आपूर्तिकर्ता के स्थान पर और फिर ग्राहक के स्थान पर उपकरण पर किए गए कुछ अध्ययन शामिल होते हैं। यदि किसी भी स्थान पर उपयोग की जाने वाली माप प्रणाली सामान्य परिस्थितियों में उपयोग की जाने वाली माप प्रणाली के अनुरूप नहीं है तो भ्रम की स्थिति पैदा हो सकती है। विभिन्न उपकरणों के उपयोग से जुड़ी सबसे आम स्थिति वह मामला है जहां आपूर्तिकर्ता पर उपयोग किए जाने वाले उपकरण में उत्पादन उपकरण गेज की तुलना में उच्च क्रम भेदभाव होता है। उदाहरण के लिए, बायऑफ़ के दौरान एक समन्वय मापने वाली मशीन के साथ और फिर उत्पादन के दौरान एक ऊंचाई गेज के साथ मापा गया भागों; खरीद के दौरान इलेक्ट्रॉनिक पैमाने या प्रयोगशाला यांत्रिक पैमाने पर और फिर उत्पादन के दौरान एक साधारण यांत्रिक पैमाने पर मापा (तौला)।

प्रक्रिया सेटअप/नियंत्रण (फ़नल प्रयोग)

निर्माण कार्य दिन की शुरुआत में एक भाग का उपयोग यह सत्यापित करने के लिए करते हैं कि प्रक्रिया लक्षित है। यदि मापा गया भाग लक्ष्य है तो प्रक्रिया को समायोजित किया जाता है। बाद में कुछ मामलों में दूसरे हिस्से को मापा जाता है और फिर से प्रक्रिया को समायोजित किया जा सकता है। डॉ. डेमिंग ने इस प्रकार के मापन और निर्णय लेने का उल्लेख किया।

उस स्थिति पर विचार करें जहां एक हिस्से पर एक कीमती धातु कोटिंग का वजन 5.00 ग्राम के लक्ष्य पर नियंत्रित किया जा रहा है। मान लीजिए कि वजन निर्धारित करने के लिए इस्तेमाल किए गए पैमाने के परिणाम 0.20 ग्राम भिन्न होते हैं लेकिन यह ज्ञात नहीं है क्योंकि माप प्रणाली विश्लेषण कभी नहीं किया गया था। ऑपरेटिंग निर्देशों के लिए ऑपरेटर को सेटअप पर वजन और एक नमूने के आधार पर हर घंटे सत्यापित करने की आवश्यकता होती है। यदि परिणाम 4.90 से 5.10 ग्राम के अंतराल से अधिक हैं तो ऑपरेटर को प्रक्रिया को फिर से सेट करना है।

मापन रणनीति और योजना

माप उपकरण या प्रणालियों की डिजाइनिंग और खरीद से पहले योजना महत्वपूर्ण है। नियोजन चरण के दौरान किए गए कई निर्णय माप उपकरणों की दिशा और चयन को प्रभावित कर सकते हैं। उद्देश्य क्या है और माप परिणाम का उपयोग कैसे किया जाएगा? नियोजन चरण पाठ्यक्रम को निर्धारित करेगा और माप प्रक्रिया कितनी अच्छी तरह संचालित होती है और क्या आप भविष्य में संभावित समस्याओं और माप त्रुटि को कम कर सकते हैं, इस पर महत्वपूर्ण प्रभाव पड़ेगा।

जटिलता(Complexity)

प्रकार की जटिलता और माप प्रणाली का उद्देश्य कार्यक्रम प्रबंधन के विभिन्न स्तरों को रणनीतिक योजना माप प्रणाली विश्लेषण या अन्य माप चयन मूल्यांकन और नियंत्रण के लिए विशेष विचार कर सकता है। सरल मापने के उपकरण और उपकरण यानी स्केल मापने वाले टेप और निश्चित-सीमा या विशेषता गेज को प्रबंधन योजना के स्तर की आवश्यकता नहीं हो सकती है, या विश्लेषण कि अधिक जटिल या महत्वपूर्ण माप प्रणाली की मांग यानी मास्टर या संदर्भ सीएमएम परीक्षण स्वचालित ऑनलाइन गेजिंग खड़ा है आदि। किसी भी माप प्रणाली को किसी दिए गए उत्पाद या प्रक्रिया की स्थिति के आधार पर कम या ज्यादा रणनीतिक योजना और जांच की आवश्यकता हो सकती है। उपयुक्त स्तर के बारे में निर्णय मापन प्रक्रिया और ग्राहक को सौंपी गई (APQP) टीम पर छोड़ दिया जाएगा। नीचे दी गई कई गतिविधियों में भागीदारी या कार्यान्वयन की वास्तविक डिग्री विशेष माप प्रणाली, सहायक गेज नियंत्रण पर विचार और अंशांकन प्रणाली गहन प्रक्रिया ज्ञान और सामान्य ज्ञान द्वारा संचालित की जानी चाहिए।


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